普川检测取得基于X射线光电子能谱的元素含量分析装置专利, 有助于全面掌握元素在纳米材料中的分布情况
国家知识产权局信息显示,广州普川检测技术有限公司取得一项名为“基于X射线光电子能谱的元素含量分析装置”的专利,授权公告号CN224122513U,申请日期为2025年5月。
专利摘要显示,本实用新型公开了基于X射线光电子能谱的元素含量分析装置,涉及元素含量分析技术领域,包括底座和设置在底座顶面上的操作箱,所述操作箱和底座外通过延伸板设置有高真空电子管;所述延伸板套接在高真空电子管的外壁上,所述操作箱与高真空电子管相对的一侧外壁上开设有密封窗口,所述操作箱上还开设有样品室,所述样品室内设置有样品和探测器,所述操作箱的外壁上设置有与探测器电性连接的数据可视化模块和数据管理模块,所述操作箱的顶面还设置有气泵;本实用新型通过X射线光电子能谱分析每层的元素含量,可获得材料内部元素含量随深度的变化趋势,有助于全面掌握元素在纳米材料中的分布情况。
天眼查资料显示,广州普川检测技术有限公司,成立于2012年,位于广州市,是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析,广州普川检测技术有限公司参与招投标项目14次,专利信息26条,此外企业还拥有行政许可8个。
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